LabVIEW與半導體量測

開課單位

物理學系

授課教師

王中彥先生、蘇育程先生

時數

14

學分

0.7

課程場次

其他報名

地點

理學院0017

人數限制

20

課程目標

課程方向:
1. 標準語法 (實作): 學生學習掌握 LabVIEW 資料流(Dataflow)觀念與圖形化程式設計
2. 資料擷取 (實作): 學習使用 DAQ 卡進行類比、數位訊號的基本輸入與輸出
3. 儀器控制 (實作): 學生學習透過 USB/GPIB控制「電源供應器」與「示波器」,實現自動化量測流程
4. 整合系統 (演示): 講師介紹演示 PXI 模組化儀器與架構,理解高速資料傳輸,即時控制能力的自動化測試或控制設備選項

課程內容

第一部分:標準 LabVIEW + DAQ 基礎(學生實機操作)
1. LabVIEW 圖形化程式開發基礎(迴圈、暫存器、資料結構、除錯技術)
2. DAQ訊號擷取實務(電壓/電流訊號的類比輸入、波形連續擷取、數據自動匯出為 CSV 檔)
3. LabVIEW + Python 整合操作

第二部分:台式儀器控制與半導體元件量測(學生實機操作與撰寫自動化程式)
1. 實驗室台式儀器通訊(學習使用 VISA 與 Instrument Drive指令控制既有示波器與電源供應器)
2. 電子元件測試實作: 學生撰寫 LabVIEW 自動化步進(Voltage Sweep)程式,自動提供控制電源,即時量測並量測電子元件反應與特徵曲線

第三部分:PXI 整合型測試系統與操作(講師講解與演示)
1. PXI 模組化儀器架構介紹(高通道與高精密同步,即時控制優勢)
2. 半導體元件測試實踐: 由講師演示極微弱電流漏電量測、脈衝式 I-V 量測(解決元件自熱效應問題),展示無程式碼,低程式碼,高速測試量測與資料擷取架構

限修條件

參考/指定用書

聯絡資訊

聯絡人:陳易馨

信箱:yihsin.chen@mail.nsysu.edu.tw

電話:3707

備註